Espectrómetro analizador portátil-XRF H500
Simplemente el mejor
Ø Su analizador de elementos portátiles que va a cualquier parte
Ø Análisis de elementos no destructivos con informes rápidos y sencillos y generación de certificados
Ø Diseño industrial robusto para casi cualquier condición climática, entorno de campo
Ø En tiempo real y preciso
Ø Amplias industrias de aplicaciones
Antecedentes e introducción
La espectroscopia de fluorescencia de rayos X dispersa de energía (EDXRF) tiene varias ventajas sobre otros métodos que miden la concentración elemental. Esta tecnología puede medir numerosas formas de muestra y puede satisfacer diferentes requisitos de medición. Además, la espectroscopia EDXRF puede detectar una amplia gama de elementos, incluso varios elementos simultáneamente. Esta técnica no es destructiva, rápida, altamente precisa y respetuosa con el medio ambiente. La espectroscopia EDXRF se puede utilizar en diferentes tipos de muestras, como a granel, líquido, polvo y gas
Funciones:
Análisis no destructivo
Rugoso. Revolucionario. Productivo.Fácil manejo
Durabilidad excepcional en condiciones extremas rápido retorno de la inversión
El software fácil de usar permite la configuración del experimento en cuestión de minutos
La medición da como resultado la calidad del laboratorio
Especificaciones técnicas
Método analítico |
Fluorescencia de rayos X dispersa de energía |
PDA con pantalla táctil |
CPU: 1G, Memoria del sistema: 1G, datos estándar de almacenamiento masivo 4G, soporte máximo almacenado extendido hasta 32G, pantalla táctil LCD grande, resolución 1820x720 |
Análisis inteligente |
Modo de prueba de selección automática basado en matriz de muestras |
Fuente de excitación |
50KV/200μA – Tubo de rayos X en miniatura integrado de la ventana final Ag/Rh y fuente de alimentación de alta tensión |
Colimador & Filtro |
Colimador múltiple y filtros con funciones de conmutación automática |
Detector |
Detector de deriva de silicio (SDD) |
Resolución de detectores |
Hasta 125eV |
Estados de muestra |
Sólidos, líquidos, polvos |
Rango elemental |
Números atómicos entre 12 (Mg) y 92 (U) |
Límite de detección |
1 – 500ppm, dependiendo de la matriz de elementos y muestras |
Tiempo de análisis |
3-60 segundos |
Análisis simultáneo |
Muestra hasta 40 elementos a la vez |
Rango de visualización |
ppm – 99,99% |
Sistema de vista de muestras |
Cámara integrada de alta resolución |
Conectividad |
USB, GPS, Wi-Fi o Bluetooth |
Seguridad |
Apagado automático del tubo de rayos X, marco de instrumento forrado por Pb, niveles de radiación dentro de los estándares internacionales de seguridad |
Fuente de alimentación |
La batería recargable Li, estándar de 9000mAh, proporciona hasta 12 horas de funcionamiento con una sola carga; Adaptador universal de 110/220V para cargar |
Temperatura |
-20ºC a +50ºC |
Humedad |
≤90% |
Peso |
1,75 kg |
Analizadores XRF en Field:Applications:
Análisis, identificación y pruebas de aleación de metales
Identificación positiva de material (PMI)
Análisis de metales preciosos y joyas
Fabricación de metales; Garantía de calidad & Control
Minería/Geología
Juguetes/Bienes de Consumo
La Ley de Mejora de la Seguridad de los Productos de Consumo (CPSIA, por sus sus hijos) de 2008 fue promulgada para combatir las alarmantes cantidades de plomo que se encuentran en los juguetes infantiles. Ahora los bienes de consumo como juguetes, ropa, joyas, cosméticos y muebles se examinan rutinariamente con analizadores XRF.
Las regulaciones mundiales de restricción de sustancias peligrosas (RoHS) siguen afectando a los fabricantes de productos eléctricos y electrónicos y a sus cadenas de suministro... al igual que las iniciativas sin halógenos. Los analizadores XRF portátiles ayudan a los organismos encargados de hacer cumplir la ley a examinar los productos en busca de mercurio, plomo y otros materiales dañinos.
Análisis/Corrección Ambiental
Suelo
Los sitios industriales y agrícolas pueden contaminarse con plomo, arsénico, cadmio, cromo y otros metales tóxicos. El primer paso correctivo en el tratamiento de estas zonas peligrosas es evaluar con precisión el alcance y la extensión de los contaminantes en el suelo. Los analizadores XRF proporcionan un rendimiento de grado de laboratorio en el campo, lo que permite la delimitación quirúrgica de los límites de contaminación mientras cumplen plenamente con el Método 6200 de la EPA de EE. UU.
Arte y arqueología
Los analizadores XRF pueden recopilar datos elementales cuantitativos de muestras arqueológicas. Estos datos se pueden utilizar para hacer coincidir pigmentos y otros materiales para la restauración, ayudar a identificar cómo se han conservado los objetos en el pasado, cómo conservarlos mejor para el futuro, obtener pistas importantes de la era de los petroglifos, identificar aleaciones y otros materiales, y ayudar a autenticar una variedad de arte y artefactos.
Rendimiento de prueba de muestras minerales de estaño
Modelo de instrumento: Analizador XRF portátil H-500 |
Muestra: |
||||
Tiempo de prueba: |
30 segundos |
Unidad: % |
|||
No. de la lectura |
Curva de calibración |
Sn |
Cu |
Fe |
Mo |
1 |
Mineral |
49.3554 |
5.7654 |
56.0551 |
5.4208 |
2 |
Mineral |
50.6876 |
5.6713 |
55.9913 |
5.5935 |
3 |
Mineral |
50.3881 |
5.7493 |
56.0739 |
5.3518 |
4 |
Mineral |
49.8010 |
5.7727 |
56.1811 |
5.4086 |
5 |
Mineral |
49.8032 |
5.6791 |
55.8322 |
5.3257 |
6 |
Mineral |
49.9043 |
5.7250 |
56.0807 |
5.4958 |
7 |
Mineral |
50.5025 |
5.6975 |
55.7652 |
5.4550 |
8 |
Mineral |
48.4144 |
5.7198 |
55.7945 |
5.4728 |
9 |
Mineral |
50.4025 |
5.7634 |
56.0962 |
5.4033 |
10 |
Mineral |
49.5978 |
5.7385 |
56.3685 |
5.4228 |
Promedio |
49.886 |
5.728 |
56.024 |
5.435 |
|
Desviación estándar Sn |
0.6738 |
0.0362 |
0.1864 |
0.0757 |
|
Rsd |
1.351% |
0.633% |
0.333% |
1.393% |
Rendimiento de prueba del Acero Inoxidable-316
Modelo de instrumento: Analizador XRF portátil H-500 |
Muestra: |
Acero inoxidable 316 |
|||||
Tiempo de prueba: |
30 segundos |
||||||
No. de la lectura |
Curva de calibración |
Cr % |
Mn % |
Fe % |
Ni % |
Cu % |
Mo % |
1 |
Acero de alta aleación |
16.648 |
0.878 |
69.346 |
10.121 |
0.309 |
1.987 |
2 |
Acero de alta aleación |
16.688 |
0.849 |
69.356 |
10.100 |
0.325 |
1.983 |
3 |
Acero de alta aleación |
16.642 |
0.872 |
69.435 |
10.061 |
0.315 |
1.991 |
4 |
Acero de alta aleación |
16.679 |
0.918 |
69.276 |
10.102 |
0.311 |
1.975 |
5 |
Acero de alta aleación |
16.611 |
0.899 |
69.266 |
10.196 |
0.305 |
1.984 |
6 |
Acero de alta aleación |
16.652 |
0.888 |
69.422 |
10.021 |
0.304 |
1.996 |
7 |
Acero de alta aleación |
16.722 |
0.865 |
69.305 |
10.098 |
0.318 |
1.975 |
8 |
Acero de alta aleación |
16.702 |
0.836 |
69.438 |
10.037 |
0.313 |
1.988 |
9 |
Acero de alta aleación |
16.629 |
0.876 |
69.382 |
10.076 |
0.312 |
1.963 |
10 |
Acero de alta aleación |
16.642 |
0.864 |
69.388 |
10.117 |
0.302 |
1.974 |
Gamas |
0.111 |
0.082 |
0.172 |
0.175 |
0.023 |
0.032 |
|
Promedio |
16.662 |
0.874 |
69.361 |
10.093 |
0.311 |
1.982 |
|
Desviación estándar Sn |
0.0349 |
0.0236 |
0.0633 |
0.0492 |
0.0071 |
0.0096 |
|
Rsd |
0.209% |
2.694% |
0.091% |
0.488% |
2.276% |
0.486% |
¿Qué es XRF?
La excitación directa es un proceso por el cual los átomos de un espécimen son excitados por fotones primarios de fuentes externas, como un tubo de rayos X, para producir fluorescencia primaria. Un proceso alternativo es la excitación indirecta, en la que la fluorescencia observada se produce como un proceso secundario por fotones o partículas (electrones) procedentes de excitación directa u otros procesos secundarios dentro de la muestra. La radiografía es una radiación electromagnética generada por partículas de alta energía que bombardean átomos. Esta radiación tiene dualidad de partículas de onda. La espectroscopia de fluorescencia de rayos X (XRF) utiliza fotones primarios de rayos X u otras partículas microscópicas para excitar los átomos del material de ensayo para producir XRF secundario para el análisis de la composición de materiales y la investigación del estado químico
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